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CameraLink_Oserdes2_test
40M时钟输入经过iserdes倍频到960M(input 40M o clock and output 960M )
- 2014-02-25 14:06:38下载
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Kluwer.Academic.The.Verilog.Hardware.Description
Kluwer academic the verilog hardware description language fith edition
- 2014-10-08 08:11:42下载
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18_vga_test
说明： 基于Xilinx Spartan6系列的fpga的VGA实现(Based on Xilinx Spartan6 series fpga VGA implementation)
- 2019-04-01 13:47:46下载
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uart
可以进行连续uart串口读写999次以上不出错，已经检测成功(It can read and write serial UArt more than 999 times without error. It has been detected successfully.)
- 2020-06-15 22:50:02下载
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fir_512_378_mux
512阶高速FIR成型滤波器，四相位复用，树形加法和多级流水线结构。(512-order high-speed FIR shaping filter, four-phase re-use, tree addition and multi-stage pipeline structure.)
- 2009-10-14 18:25:24下载
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220model
quartus 的220model 与 altera mf的库 用于fpga的modelsim仿真过程中添加到工程里面(the libary of 220 model and altera mf when we simulate the fpga project by modelsim)
- 2020-07-04 11:00:01下载
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对于功能的宽边测试阵列架构采用Verilog共享的逻辑
应用背景当内置测试生成用于设计，可以划分为逻辑块，它是有利的确定测试具有相似特性的块组，并使用每个组中的块相同的内置测试生成逻辑。本文研究这一问题的一个内置的测试生成方法，产生功能的宽边的测试。功能的宽边的测试是重要的解决延迟故障检测及避免过大的功耗在测试中应用。本文讨论了测试生成的设计一组逻辑块，以及组的选择。关键技术并；宽边的功能测试[ 4 ]确保扫描状态是一个电路可以输入的状态在功能操作，或可到达状态。为宽边测试[ 5 ]，他们在一个初始的时钟周期的两个时钟周期运行的电路扫描状态。这一结果在一二种模式测试中的应用。自状态扫描是一个可到达状态，2个模式测试需要的电路通过状态转换，保证在功能上是可行的运行。检测到的延迟故障也会影响到功能操作，目前的要求不超过那些可能在功能操作过程中。这减轻了过度测试所描述的类型在[ 1 ]中[ 3 ]。此外，在快速功能时钟的功耗功能的宽边测试周期不超过可能在功能操作。
- 2022-10-29 12:55:03下载
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PS2-Verilog程序
这个程序详细的介绍了PS串口的编写，以及键盘的消抖。并显示在数码管上。经仿真验证，程序能够很好的完成设计目的。
- 2023-08-16 07:30:04下载
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华为经典FPGA设计全套入门技巧
华为FPGA设计全套资料，学习FPGA的朋友可以下载看看。(Huawei FPGA design a full set of materials, friends learning FPGA can download and see.)
- 2019-04-02 13:54:48下载
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pinlvji
用汇编语言设计的频率计，注释较详细，适于初学者学习使用(Assembly language design frequency meter, the comment in more detail, suitable for beginners to learn to use)
- 2012-04-16 10:47:59下载
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