t5
于 2012-05-16 发布
文件大小:1KB
0 197
下载积分: 1
下载次数: 0
代码说明：
说明： 微电子专业试验中关于突变结和非突变结的确定雪崩倍增因子外加随外加反偏电压的变化关系。(Abrupt junction and non-abrupt junction Microelectronics test to determine the avalanche multiplication factor plus the applied reverse bias voltage variation.)
下载说明：请别用迅雷下载，失败请重下，重下不扣分！
发表评论
