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MAX5250_Serial
说明： 对MAX5250芯片进行控制，实现DA转换输出。(Controlling MAX5250 Chip)
- 2019-06-27 14:19:36下载
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IC设计基础
说明： 一本很经典的IC设计中文入门书籍，由任艳颖，王彬编著，翻印几百万册(A very classic introduction to Chinese in IC design book, compiled by Ren Yanying and Wang Bin, reprinted millions of copies)
- 2020-06-23 22:20:02下载
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sdram_module3
能够实现16位的SDRAM的读写，没有仿真文件，只有SDRAM读写的源代码，用Verilog编写(can complete read or write sdram， only include Verilog code and no simulation files)
- 2013-11-25 12:43:11下载
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fleverDDS_new
fpga控制da产生幅值频率可调的正弦波程序(the fpga Control da produce the amplitude adjustable frequency sine wave program)
- 2013-01-07 10:47:43下载
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cpri
基于verilog的cpri接口代码，支持各种速率自由切换，量产产品实际应用代码(Cpri interface based on verilog code, support various rate free switch, production products the actual application code)
- 2015-09-21 16:59:59下载
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dds(1)
基于DDS的信号发生器设计。DDS,FPGA,Verilog。(Design of signal generator based on DDS.DDS,FPGA,Verilog.)
- 2017-07-11 16:36:38下载
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输入向量并行BIST结构监测
应用背景输入向量并行内置自测试（BIST）监测在电路正常运行时执行测试方案不需要设置一个需要设置的电路线来进行测试。这些计划是基于硬件开销和并发测试潜伏期（CTL），即为测试所需的时间完成，而电路工作正常。在这个简短的，我们提出一种新的输入矢量并行BIST方案监测，以在监视一组（称为窗口）的向量的想法电路的输入，在正常操作期间，和一个静态的ramlike使用结构存储的相对位置的载体，达到在检查窗口的电路的输入，所提出的方案显示表现明显优于先前提出的计划相对于硬件开销和CTL的权衡。关键技术内置自测试（BIST）技术构成的一类方案这将提供高性能测试的性能故障覆盖，而同时，他们放松的依赖昂贵的外部测试设备。因此，它们构成一个有吸引力的解决方案的问题，测试超大规模集成电路设备[ 1 ]。BIST技术通常分为离线和在线。离线结构在正常模式下操作（在这期间内电路是空闲的）或测试模式。在测试过程中，所产生的输入通过一个测试生成模块被施加到电路的输入在测试（削减）和响应被捕获到一个响应验证者（RV）。因此，进行测试，正常运行削减是停顿，因此，该系统的性能在该电路被包括，被降解。
- 2022-06-11 17:25:40下载
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demo
NiosII的C代码,包括网卡,lcd,usb,串口,按键.(NiosII C code, including network cards, lcd, usb, serial, key.)
- 2013-07-19 11:17:29下载
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电梯
利用verilog编写的电梯程序，实现基本的电梯运行功能(Elevator program written by Verilog)
- 2018-11-25 11:39:50下载
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code
说明： 基于蜂鸟E203riscv系统的DMA外设代码(DMA code based on hbird_e203 system)
- 2021-04-14 13:38:55下载
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