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FPGA基于verilog语言的pll数字锁相环
应用背景pll数字锁相环在FPGA中具有很重要的作用，在提取信号同步时钟等方面都有应用。关键技术FPGA的PLL数字锁相环的实现基于verilog语言，采用鉴相器、滤波、数控振荡器、分频器的结构进行实现。
- 2022-02-02 05:35:33下载
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code
adder 18b trong chuong trinh verilog
- 2017-11-26 14:34:56下载
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mux
说明： wallance树实现8*8无符号数的相乘(Multiplication of 8 * 8 unsigned numbers by Wallace tree)
- 2020-06-04 15:03:39下载
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THS1206
FPGA来实现数据采集，AD采用TI公司的THS1206，高速并行AD，内含16字FIFO，降低硬件复杂度。(FPGA to realize data acquisition, AD using TI company s THS1206, high-speed parallel AD, containing the 16-character FIFO, to reduce hardware complexity.)
- 2009-07-09 09:08:27下载
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输入向量并行BIST结构监测
应用背景输入向量并行内置自测试（BIST）监测在电路正常运行时执行测试方案不需要设置一个需要设置的电路线来进行测试。这些计划是基于硬件开销和并发测试潜伏期（CTL），即为测试所需的时间完成，而电路工作正常。在这个简短的，我们提出一种新的输入矢量并行BIST方案监测，以在监视一组（称为窗口）的向量的想法电路的输入，在正常操作期间，和一个静态的ramlike使用结构存储的相对位置的载体，达到在检查窗口的电路的输入，所提出的方案显示表现明显优于先前提出的计划相对于硬件开销和CTL的权衡。关键技术内置自测试（BIST）技术构成的一类方案这将提供高性能测试的性能故障覆盖，而同时，他们放松的依赖昂贵的外部测试设备。因此，它们构成一个有吸引力的解决方案的问题，测试超大规模集成电路设备[ 1 ]。BIST技术通常分为离线和在线。离线结构在正常模式下操作（在这期间内电路是空闲的）或测试模式。在测试过程中，所产生的输入通过一个测试生成模块被施加到电路的输入在测试（削减）和响应被捕获到一个响应验证者（RV）。因此，进行测试，正常运行削减是停顿，因此，该系统的性能在该电路被包括，被降解。
- 2022-06-11 17:25:40下载
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I2C-AT24C02
I2C总线芯片AT24C02程序设计 C++编程(I2C bus AT24C02 chip program design)
- 2013-05-27 15:01:08下载
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mybch1
说明： 实现（7,4）BCH码的编码和译码。已知生成矩阵和校验矩阵，通过c=m*G进行编码，译码时利用伴随式译码。s=c*H‘，求得伴随式，对应的错误图样找到错误位置，对错误位置进行更正，得到译码结果。(Coding and decoding of (7,4) BCH Codes)
- 2021-04-27 17:28:44下载
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FIR_poroje
this project is about FIR FIlter By VHdl codes in the ISE.
- 2013-09-29 19:25:16下载
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8b10bEncoderDecoder-SourceCode (1)
lattice的官方8b10b代码, 1012年版本，diamond3.5编译。(lattice 8b10b encoder decoder code)
- 2020-08-31 14:58:10下载
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sigma-delta-modulator
实现SIGMA-DELTA Modulator的veriolog代码(sigma-delta moudulator for RFPLL )
- 2020-11-11 13:39:44下载
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